本文标题："颗粒粒度测定方法-电子显微镜法"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2013-1-24 22:54:44
颗粒粒度测定方法-电子显微镜法
颗粒粒度测定方法：常用的颗粒粒度测定如下：
方 法
适用粒度范围(µm)
一 尺量
肉眼方便的粒度
二 筛分(Screening)
实验筛：10,000~74(Subsieve Size 可测至 10µm)
工业筛：100,000~150
三 升流法(Elutriation)
40~5
四 显微镜(光学)法
50~0.25
五 沉降法(Sedimentation) 重力场中：40~1.0；离心场中：5~0.05
六 电子显微镜法
1~0.005
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