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本文标题："金属截面光学显微镜观察剖面的金相结构"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2014-5-31 5:15:32

金属截面光学显微镜观察剖面的金相结构

除了对断口的光学显微镜观察外还可进行断口剖面观察。在分析研究断裂原因、断

裂过程时，仅靠断口形貌分析是不够的，往往还需要观察断口的垂直截面，以利于搞清断

口表面(主裂纹)走向与晶粒的位向关系、与晶界的关系、与夹杂物的关系、与孪晶的位向

关系以及二次裂纹的走向与分布等。断口剖面分析能有效地揭示材料在制造、加工过程

中产生的缺陷，分析各种不利工况和环境对材料性能的影响等。它可以对夹杂物、微观组

织偏析、脱碳、增碳、热处理不当、硬化层深度、镀层厚度、晶粒大小及热影响区进行检测和

分析。

断口剖面通常是垂直于断口表面，有时也可使剖面与断口表面呈一定角度。制备剖

面样品时必须保护好断口表面，通常采用镀镍保护，也可采用金相镶嵌法保护。

电子显微镜在断口分析中应用广泛。它可以依据断口的微观形貌特征判定断裂的类

型，从裂纹源处查明断裂原因。它还能进行断裂失教的定量分析，如进行韧性的定量测

量，分析测定裂纹的扩展速率、断裂过程与影响因素之间的定量关系等。因此，电子断口

分析对断裂机理的研究有重要作用。

断口微观形貌中.韧窝、解理花样、疲劳辉纹等分别是判断金属韧性断裂、解理断裂和

疲劳断裂的主要依据。

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