欢迎来到上海光学仪器一厂

本文标题:"工业测量显微镜垂直方向成像解析度不足"

发布者:yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间:2013-3-15 0:10:49

 工业测量显微镜垂直方向成像解析度不足

 
 
一为『三维扫瞄机二代 』,另一为『 低温共轭焦显微镜 』 
 
垂直方向解析度不足一直是所有影像系统的问题,工业上利用光学三角测量法(Optical triangulation) 测量z轴距离,
并藉由扫描方式得到三维影像。第二代则是利用斜向入射的条纹图形(Moire pattern),并配合扫描即可快速得到高解析度三维影像,
 
设计用于斜向投影的(30度)的成像镜头,以及LED的背光系统,条纹的亮度均匀度在5 x 5 mm范围,对比度可达 68.7% ,亮度均匀度可达78%。 
本文第二部份探讨在深1600mm超导磁铁内装置共扫描轭焦扫描探测器(Scanning confocal probe),此影像探测镜头除了可侦测样品电性外,
还包含光纤导入的激发光源、即时CCD影像监测与筒共轭焦扫描,可在低温与高磁场下测量电信讯号与萤光影像特性。
 
最大挑战为筒身长达1600mm为一般显微镜10倍,因此像差均会被放大十倍,因此成像镜头组的设计与组装为成败关键。
 
依据现代显微镜来设计我们的组体架构,配合光学设计模拟软体ZEMAX来设计透镜组合,
解析度可达2.96um,MTF均在0.8以上,能量可达入瞳总强度76%。 

后一篇文章:近场光学显微镜材料矿石直径3μm深为1.5μm观察 »
前一篇文章:« 材料观察电子显微镜试片厚约100微米的薄片


tags:金相,金相显微镜,上海精密仪器,

工业测量显微镜垂直方向成像解析度不足,金相显微镜现货供应


本页地址:/gxnews/588.html转载注明
本站地址:/
http://www.xianweijing.org/