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本文标题:"截面测量颗粒大小分布计量图像显微镜"

发布者:yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间:2020-2-19 0:24:39

截面测量颗粒大小分布计量图像显微镜

 
    截面测量计量颗粒的空间大小分布
    对集合体中的颗粒一般是从试样薄片和光片中某个截面上测量的。由
于截面效应所测得的并不是颗粒空间真正的大小和分布,因此只有在一定
的假设条件下,才能从截面的测量值推导出颗粒空间大小的分布。最简单
的是把非球状颗粒假想成同体积的球状颗粒,按体视学方法根据投影尺寸
计算球状颗粒在空间尺寸的分布,主要有截面圆法和弦长法,相比之下前
者精度要高一些。进行全自动图像分析时要求用图像对比度好的样品。需
要采用半自动或人工分析时,多采用弦长法,这样测量及其数据处理要简
单得多。
    1.弦长法
    通过测量截平面上测试线段在颗粒上所截得弦长计算颗粒在空间尺寸
分布的方法,称为弦长法。
 
    2.截面圆法
    从测定颗粒截面圆的直径分布来计算颗粒在空间尺寸分布的方法,称
为截面圆法。
 
    图像分析粉料试样的制备
    图像分析的测量范围和仪器的分辨本领有密切关系,不同仪器的放大
倍数和分辨本领测量范围相差甚大,对制备试样的方法和要求亦不一样。
图像分析仪的分辨本领随联机的显微镜分辨力而定,光学仪器的放大倍数
是由几何光学决定的,而电子仪器的分辨本领则取决于衍射理论。现分别
简单介绍它们试样的制备方法和要求。

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