本文标题："量测方式的选择对于量测结果有很大的影响-测量工具显微镜"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2013-2-7 23:33:23
接触式测头量测方式
使用接触式测头做曲面量测时，量测方式的选择对于量测结果有很大的影响。
通常使用于曲面量测的触发式测头，其量测方式的型态可分为触发式与连续式量测两种。
(一) 触发式量测
一般三次元量测仪最常使用触发式量测，当触发式测头触发并产生讯号时，既表示测头与待测物间的接触力大于设定值时，使接触点转向，线圈上的电阻会产生变化，进而送出一触发讯号到位置检测器，三轴位置检测器收到讯号后，将各轴座标的位置纪录下来，利用此一方式量测的速度较慢。
(二) 连续式量测
连续式量测常用于曲面扫描，利用测头和工件接触时所产生的三轴位置变化量传送到控制器上，以使测头能沿着曲面的高低起伏作自动扫描量测。
量测软体系统架构
量测软体系统架构主要可分为三部分：系统设定、基本量测及计算、扫描量测。
(1) 系统设定
与量测有关的前置準备或报表均属此类。
例如：校正探针，选择探针，工作面设定，机械归零，报表和量测参数设定等。
系统设定虽非扮演主要角色，但对量测的方便性及精确性，却提供不少助益，每一次操作中均要使用。
(2) 基本量测及计算
可进行各种形状量测（点、线、面、圆、圆锥、圆柱等），尺寸计算（距离、角度）及几何公差检测（平行度、垂直度...等等）。
(3) 扫描量测
主要针对逆向工程之需求而发展，因此量测功能不在求简单，而是求完整，希望能提供逆向工程所需之各项量测功能。
扫描量测的功能又可分为系统设定及量测两类：与系统设定有关的功能，包括座标系统设定，座标系选用，扫描方式及参数设定；而与量测相关的功能，包括等高度，等半径，3D曲线量测，所有资料均需经测头半径补正，以获得正确的工件表面点资料。
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