本文标题："两个折光率不同的介质相接触时-矿物检测显微镜"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2015-10-5 5:1:22
两个折光率不同的介质相接触时-矿物检测显微镜
一轴晶晶体一轴晶光率体的主轴为No及Ne，故有两个
主要颜色，测定一轴晶的多色性，必须利用平行光轴的切
面，因为此面上包含真正的No及Ne，垂直光轴的切面，只
能看到的颜色，而不能看到颜色的变化，任意方向的切面。
薄片中的矿物边缘、糙面、突起及贝克线1 、矿物的
边缘（轮廓）
当两个折光率不同的介质相接触时，由于光从一种介
质传入另一种介质中，必然发生折射，使两种介质交界处
的光亮减弱，面晶粒出黑暗的边缘，称为矿物的边缘，各
种矿物边缘的粗细，明暗，决定于矿物与加拿大树胶的折
光率差值的大小，二者相差愈大，边缘愈粗愈暗，仔细观
察矿物的边缘，可以粗略估计矿物与加拿大权胶折光率的
差值。
2 、矿物的糙面在显微镜下观察薄片中各矿物时，可
以看出某些矿物表面较光滑，某些矿物表面较粗糙，好像
紴皮一样，这种现象称为糙面。
3 、矿物的突起在薄片中，不同矿物颗粒表面好像是
高低不一，有些矿物显得高一些，有些矿物则显得低一些，
这种现象称为突起。
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