本文标题："电子和光学显微学观察样品的象中得到衬度的变化"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2015-8-7 16:12:50
电子和光学显微学观察样品的象中得到衬度的变化
在电子和光学显微学中，在精确聚焦下衬度不足的原因是相
同的一一这些薄样品(‘相位物体’)仅影响透过样品的波的相位，
而不影响它的振幅。这样，其作用象一种折射率可变的介质
如果我们想要‘看见’例如在电镜中的原子，就必须把这
只有使用相干照明和一个有‘缺陷’显微镜时，我们才有希望
从一个只有折射率变化的样品的象中得到衬度的变化。在薄样品
的高分辨电子显微学中精确控制照明的相千性(illumination
coherence)和离焦量(defect of foous)，乃是成功之关键。随照
明相干性的改进，高分辨率显微象中精细的细节量会有显著的增加，
而在聚焦设置不当情况下拍摄照片，也可能会观察到完全谬误的
细节。
为了说明在高分辨率时，相干性对成象质量的影响
出了在其它条件相同，而照明相干性大为不同的各种条件下无定
形碳膜的象。在‘非相干’图象中精细细节的丢失是明显的。实际
上，在装有常规的发叉形灯丝的电镜中，照明相干性是由第二聚光
镜光阑尺寸所决定的，这是一个产生高相干性的小孔径。对足够
小的电子源(如场发射、点状阴极或LaBo源)照明可能是完全相
干的，而与第二聚光镜(照明)孔径的选择无关。对这些电子源来
说，两个聚光镜缩小比率的设置对决定样品处相干性程度也是重
需要着重强调的主要变化在于：在常规成象时，我们涉及的是厚样
品，可能是染色样品，用一个小的物镜孔径和大的聚光镜光阑来成
象，聚焦不存在特殊问题。而在高分辨率相位衬度成象时，涉及的
是尽可能薄的(不染色的)样品，用一个最佳尺度的较大物镜光阑和
一个小的照明光阑。聚焦的选择变得很苛刻，或者以计算所得的象
凭经验加以指导，或者以样品所要结构的邻近有已知结构小区域的
出现凭经验加以指导。对大多数不小于0．85nm分辨率所成象的大
单胞晶体来说，为了能给出一个容易解释而不包括虚假细节的象，
当显微镜的球差系数为1—2mm吼聚焦应选择在欠焦(减弱透镜)60--
90nm的范围内。为了设置这样的聚焦条件，必须校准聚焦控制钮。
在8。土节中给出了测量焦距级差(thefoousinorements)的各种方
法。
高分辨率工作对仪器的要求和变动
电子显微镜的主要制造厂家所提供的仪器性能都是十分接近的
。所有仪器都能给出点分辨率优于0．35nm的明场象。现在倾向于
在高分辨率工作中用旁插式同心倾角台，这种样品台生物工作者已
用了多年，而对于高分辨率的工作，这种台会使对小晶体的定向大
为方便，因为使用这种样品台，随样品倾斜产生的横向位移将会最
小。但对需长时间曝光的暗场工作时，这类样品台的性能还有待于
评价。 因为过去使用这类样品台时，由于热效应而引起的漂移速
率比顶插式的样品台要大得多。
实验室如果现在已经购置了透射显微镜，并想用它开展高分辨
率研究工作，则应考虑以下各点。
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