本文标题："用实体显微镜测量统计-矿物分析显微镜"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2014-12-11 17:21:59
用实体显微镜测量统计-矿物分析显微镜
影响矿物单体解离度测定精度的因素
样品代表性的影响
比重大小不一的选矿产品，堆放时会因重力分异作用而
使某些颗粒产生局部富集，造成抽样误差。因此，在取样
缩分过程中，一定要充分拌匀，用缩分器划四分法严格操
作，直至缩分取得具有代表性的样品，并按规定脱磁、脱
泥后进行分析，才能保证测量统计结果的精度。
在磨制团块光片时，矿样与粘结剂要充分搅拌，粘结剂
的分量要恰当，千万不能过多，否则矿物颗粒会比重不同
而造成分布不均匀，产生测量误差。
截面的影响
边生体颗粒是立体形态，而在光片上妯露的仅是其中一
截面，当制片中仅切到一种矿物时， 不可避免地会把一
部分边生体颗粒误认为是单体颗粒，但决不会把单体颗粒
误认为连生体颗粒，因而造成截面单体颗粒比实际单体颗
粒偏高。根据这种统计数据计算的单体解离度也同样偏高
，光片中边生体颗粒愈多，这种误差愈大。这种误差要结
合连生类型加以修正。
但是，左路用实体显微镜测量统计时，由于观察到的是
矿物颗粒的立体形态，所以此项误差基本不存在，因此，
对400目以上的选矿产品，一般应在实体显微镜下观测；
对负0.037-0.018mm粒级的产品，才需要磨制成光片在矿
相显微镜下观测。
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