欢迎来到上海光学仪器一厂

本文标题:"金相显微镜的晶粒度是描述晶粒大小-测量仪器"

发布者:yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间:2014-3-6 13:28:22

 金相显微镜的晶粒度是描述晶粒大小-测量仪器

 
    金相显微镜的晶粒度的定义
 
    金相显微镜的晶粒度是描述晶粒大小的一个参数。是表示单位体
积的晶粒数目,或者单位面积以内的晶粒数目和晶粒的平均线的长度,
就表示一般热板的晶粒度在横向正在。
 
    金相显微镜的照明技术分背面照明,暗视场,直接照明,同轴照
明和散射照明等。背面照明是物体背面射过来均匀视场的光,可以看
到轮廓和测量尺寸以及方向。
 
    暗视场上的光是从一个角度射到物体的表面上的,它是倾斜的散
光,通常用在金相显微镜中配备上面。
 
    直接照明是光直接射向物体而得到影像。它用来得到高对比和高
度物体的有效光线。
 
    同轴照明就是同轴光形成的一个垂直方向的光源,是通过一个角
度的半透明的光面反射,使光线得以垂直向下的方式照射到物体表面
上来。
 
    散射照明就是反射照明,它是没有方向的就像刺眼的阴影样柔和
的光线,适合于高反射物体。

后一篇文章:AFM显微镜的测量原理-显微仪器制造厂商 »
前一篇文章:« 电子显微镜固体表面的成像技术简介-材料显微结构


tags:技术,金属,材料学,金相显微镜,上海精密仪器,

金相显微镜的晶粒度是描述晶粒大小-测量仪器,金相显微镜现货供应


本页地址:/gxnews/1446.html转载注明
本站地址:/
http://www.xianweijing.org/