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本文标题:"岩石层厚度量测以及孔隙率测量影像测量仪器"

发布者:yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间:2013-10-6 10:3:3

岩石层厚度量测以及孔隙率测量影像测量仪器


判断震波反射和层面之间的关系,进而评估个别反射的可能时间意义。如果有声阻的变化,

震波反射祗会在层面的地方发生。此外,还有侧向及垂直方向的解析度问题存在。为了研
究在不同状况下的层面的震波响应,我们检讨一下最有利的情形:即 1000 公尺或一秒
钟的双程走时的较浅深度、高频震波(约 50 赫)以及低速(约 2000 公尺/秒)。这些
参数代表在探勘工作最佳的例子。在深度或速度上的增加以及在频率上降低,都会对
垂直方向及侧向的解析度有严重的效果。就以上的频率及间隔速度而言,一个地层至
少须有 20 公尺厚(40 公尺波长的一半),才不致从地层的顶部及底部来的反射之间发
生干扰现象。由 20 公尺降到 10 公尺(四分之一波长,即调波厚度)时,则由地层的
顶部及底部来的反射之间将发生干扰。最大的建设性干扰发生在 10 公尺,

即调波厚度,但要求在地层单元的顶部及在底部反射系数具有不同的极性。在调波厚度的时候,震
波反射像似一单纯的涟波,振幅最大。当厚度小于 10 公尺时,震波响
应为一单纯的一定波长的涟波,不过,随着厚度更薄,振幅变小。对于 1 公尺左右厚
度的独立地层,其震波响应可以忽略。相当于这些参数的夫瑞奈带的半径,在未经移
位的剖面上,约为 141 公尺。


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